粉末顆粒測試儀微納粒度測試儀 

2018年8月9日，中國顆粒學(xué)會第十屆學(xué)術(shù)年會暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會在歷史悠久的沈陽市舉行，本屆會議由中國顆粒學(xué)會、中國科學(xué)院金屬所、 清華大學(xué)、大同大學(xué)（臺北）共同主辦，作為顆粒測試領(lǐng)域及國內(nèi)激光粒度儀研發(fā)的先驅(qū)品牌，濟南微納顆粒儀器受邀參會。

8月10日下午，在顆粒的測試與表征分會場，微納顆粒創(chuàng)始人任中京教授現(xiàn)場講解《激光粒度分析儀多次散射補償技術(shù)研究》的研究報告。激光粒度分析儀多次散射補償技術(shù)的研究的意義就是提高激光粒度儀測試的精度，消除激光多次散射對顆粒測試結(jié)果帶來的影響，闡述了微納顆粒研發(fā)的補償技術(shù)可有效改善大顆粒寬分布顆粒群的粒度分布的測試精度，并且該技術(shù)已經(jīng)成熟運用到微納研發(fā)的Winner系列 微納顆粒創(chuàng)始人任中京教授在作報告。

激光粒度儀原理分析：

衍射和散射經(jīng)典理論指出，光在傳播中，波前受到與波長尺度相當(dāng)?shù)南犊谆蝾w粒的限制，以受限波前處各元波為源的發(fā)射在空間干涉而產(chǎn)生衍射和散射，衍射和散射的光能的空間（角度）分布與光波波長和隙孔或顆粒的尺度有關(guān)。用激光做光源，光為波長一定的單色光后，衍射和散射的光能的空間（角度）分布就只與粒徑有關(guān)。對顆粒群的衍射，各顆粒級的多少決定著對應(yīng)各特定角處獲得的光能量的大小，各特定角光能量在總光能量中的比例，應(yīng)反映著各顆粒級的分布豐度。按照這一思路可建立表征粒度級豐度與各特定角處獲取的光能量的數(shù)學(xué)物理模型，進而研制儀器，測量光能，由特定角度測得的光能與總光能的比較推出顆粒群相應(yīng)粒徑級的豐度比例量。

作為國內(nèi)激光粒度儀行業(yè)研發(fā)的先驅(qū)者，微納顆粒一直在顆粒測試技術(shù)領(lǐng)域潛心鉆研，把創(chuàng)新技術(shù)運用到儀器，并成熟落地到項目。