廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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直讀光譜儀的工作原理和使用范圍

直讀光譜儀采用的是原子發(fā)射光譜學(xué)的分析原理，樣品經(jīng)過(guò)電火花的高溫放電將固體激發(fā)成原子蒸汽，之后蒸汽中的原子或者離子被激發(fā)后產(chǎn)生i發(fā)射光譜，之后光譜經(jīng)光導(dǎo)纖維進(jìn)入分光室色散成各光譜波段，根據(jù)每種元素發(fā)射出的光譜譜線強(qiáng)度對(duì)比樣品中該元素的含量，以其百分比濃度顯示。

爐中取的樣品只要打磨掉表面氧化皮，固體樣品即可放在樣品臺(tái)上激發(fā)，免去了化學(xué)分析鉆取試樣的麻煩。對(duì)于鋁及銅、鋅等有色金屬樣品而言，可用小車(chē)床車(chē)去表面氧化皮即可。

從樣品激發(fā)到計(jì)算機(jī)報(bào)出元素分析含量只需20-30秒鐘，速度非?？?，有利于縮短冶煉時(shí)間，降低成本。特別是對(duì)那些容易燒損的元素，更便于控制其后的成份。

火花直讀光譜儀結(jié)構(gòu)

火花直讀光譜儀是進(jìn)行冶煉爐前的在線分析以及中心實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品檢驗(yàn)，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。 火花直讀光譜儀用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈髟貜墓虘B(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長(zhǎng)，用光柵分光后，成為按波長(zhǎng)排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過(guò)出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號(hào)變成電信號(hào)，經(jīng)儀器的控制測(cè)量系統(tǒng)將電信號(hào)積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計(jì)算機(jī)處理，并打印出各元素的百分含量。

火花直讀光譜儀是一種爐前元素快速分析儀器，其光源為低壓直流快速火花光源。儀器整機(jī)結(jié)構(gòu)、分光系統(tǒng)、電器系統(tǒng)、分析軟件及電磁兼容性等方面，都充分考慮到用戶現(xiàn)場(chǎng)的需求，經(jīng)不斷研究、實(shí)驗(yàn)、優(yōu)化而來(lái)，使性能指標(biāo)能滿足用戶現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用的要求。

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小編教你如何避免直讀光譜儀的誤差

(1)試樣表面要平整，當(dāng)試樣放在電極架上時(shí)，不能有漏氣現(xiàn)象。如有漏氣，激發(fā)時(shí)聲音不正常。

(2)樣品與控制標(biāo)樣的磨紋粗細(xì)要一致，不能有交叉紋，磨樣用力不要過(guò)大，而且用力要均勻，用力過(guò)大，容易造成試樣表面氧化。

(3)對(duì)高鎳鉻鋼磨樣時(shí)，要使用新砂輪片磨樣，磨紋操作要求更嚴(yán)格。

(4)試樣不能有偏析、裂紋、氣孔等缺陷，試樣要有一定的代表性。

直讀光譜儀有哪些誤差來(lái)源

系統(tǒng)誤差的來(lái)源

(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。

(2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。

(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。

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直讀光譜儀的維護(hù)周期

一、刷電極（每次激發(fā)前)

二、過(guò)濾罐清理（7-15）天

三、激發(fā)臺(tái)的清理（3-7）天

四、清理透鏡（3-6）月

五、分子過(guò)濾篩（1-3）年

注：實(shí)際清理時(shí)間根據(jù)客戶的使用頻率而定，二、三、四、五項(xiàng)給出的是小檢查周期，若儀器性能良好，適時(shí)檢查即可，并不一定需要清理。

光電直讀光譜儀激發(fā)部位的選擇

光電直讀光譜儀分析中，試樣制備好以后，一般選擇哪個(gè)部位激發(fā)比較好？

一般選在距離試樣中心三分之二的圓周部位。如鋼鐵試樣在模具中凝固以后會(huì)形成三個(gè)晶區(qū)即精細(xì)粒區(qū)、柱狀晶區(qū)和等軸晶區(qū)。試樣z外層是精細(xì)粒區(qū)，該區(qū)域晶粒雜亂且區(qū)域較?。ㄒ话阒挥袃扇撩祝?；試樣中心區(qū)域是等軸晶區(qū)，就晶體本身來(lái)說(shuō)較適合光譜分析，但是該區(qū)域多縮孔、砂眼、夾雜等缺陷；所以距離試樣中心三分之二的圓周是z理想的分析區(qū)域，該區(qū)域多為柱狀晶，宏觀偏析也較小，z適合光譜分析。另外，鑄態(tài)試樣凝固時(shí)間越短越有利于分析，以避免偏析的出現(xiàn)。