廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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光電直讀光譜儀選擇應注意的事項

分光計的選擇

一般是根據(jù)分析元素及其測定范圍、鄰近譜線對分析線影響的程度等因素，考慮色散率、測定波長范圍和亮度來選定。

分析線的選擇

分析元素和內標元素的譜線應選擇受其他元素譜線及帶光譜等影響小、信噪比大的譜線。

對直讀光譜儀射線強度有影響的因素

不均勻效應

不均勻效應是指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對熒光X射線強度的影響。對于粉末樣品，大顆粒吸收效應強，小顆粒吸收效應弱，因此，要求顆粒粒度盡量小一些，以減少對X射線的吸收。測短波X射線時，要求粒度在250目以上，測量波長大于0.2nm的長波x射線時，則粒度要求在400目以上。

固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓實并使表面平滑。粗糙表面會使熒光X射線的強度明顯下降。測量短波X射線時，光潔度在1005m左右，測量長波X射線時，光潔度為20-50Mm。

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火花直讀光譜儀常見的故障以及處理措施分析

光強值下降

原因分析：1、透鏡臟；2、入射狹縫污染；3、光纖老化

處理辦法：擦拭透鏡，清理狹縫，更換光纖。

經(jīng)驗總結：火花直讀光譜儀用久了，激發(fā)臺會因點打的太多了，出現(xiàn)放電漏氣現(xiàn)象，導致光強上不去，需要經(jīng)常清理激發(fā)臺板及火花室。

數(shù)據(jù)不穩(wěn)定

處理方法：清洗鏡片后重新做標準化，儀器鏡片的污染會導致數(shù)據(jù)測試的結果不穩(wěn)定，長時間沒有做儀器的曲線校準也會導致數(shù)據(jù)測試穩(wěn)定性不好。

P、S穩(wěn)定性不好，檢查真空泵是否被誤關掉，真空光路鏡片是否需要清洗，一個維護不好的光路會導致錯誤的重現(xiàn)性和分析結果。

處理辦法：檢查真空泵及清洗鏡片

真空值下降快故障

處理辦法：看真空值曲線是否平緩，否則，有漏氣的地方，檢查真空室真空蓋密封性，更換密封圈或對角緊固螺絲，

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直讀光譜儀的特點分析

一、爐中取的樣品只要打磨掉表面氧化皮，固體樣品即可放在樣品臺上激發(fā)，免去了化學分析鉆取試樣的麻煩。對于鋁及銅、鋅等有色金屬樣品而言，可用小車床車去表面氧化皮即可。

二、從樣品激發(fā)到計算機報出元素分析含量只需20-30秒鐘，速度非?？?，有利于縮短冶煉時間，降低成本。特別是對那些容易燒損的元素，更便于控制其*后的成份。

三、樣品中所有要分析的元素（幾個甚至十幾個）可以一次同時分析出來，對于牌號復雜的產(chǎn)品，要求分析元素愈多愈合算，經(jīng)濟效益好。

儀德型直讀光譜儀具有以下特點：

1、易于擴展升級，用戶若需增加新基體或新元素的分析，只需添加相應分析程序，無需改變儀器硬件；

2、儀德檢測，能夠獲得紫外至可見的所有譜線，可根據(jù)需求來選擇分析譜線，易于實現(xiàn)多基體的分析；

3、譜線信息豐富，結合扣背景、譜線分離等先進的算法，可以準確扣除各種光譜干擾；

4、儀器校準方便快捷，只需通過智能校準算法，即可實現(xiàn)光譜校正，無任何運動部件；

5、能根據(jù)元素的含量范圍和基體種類選擇z優(yōu)的分析譜線，實現(xiàn)更準確的測量。